• Verwijzen/exporteren
  Verwijzen/exporteren

  Verwijzing kopiëren

  APA (6e ed.)

  

  Chicago (auteur-datum, 15e ed.)

  

  Harvard (18e ed.)

  

  MLA (7e ed.)

  

  Turabian (6e ed.)

  

  Verwijzing exporteren

  Exporteren naar RefWorks   Exporteren naar EndNote / Reference Manager   Exporteren naar EasyBib
  Exporteren naar EndNote / Reference Manager (niet-Latijn)   Annuleren

  Opmerking: Verwijzingen zijn gebaseerd op standaardvormen voor bronverwijzing. Er zijn grote verschillen tussen de opmaakregels van verschillende toepassingen en interesse- of onderzoeksvelden. Pas de specifieke vereisten of voorkeuren van uw reviserend uitgever, docent, instelling of organisatie toe.
• Afdrukken
• E-mail
  E-mail

  Alle velden zijn verplicht

  Het veld voor e-mailadres(sen) is verplicht. Vul e-mailadres(sen) van de ontvanger in.

  U heeft een of meer e-mailadressen ingevuld waarvan de opmaak niet klopt. Vul nogmaals e-mailadres(sen) van de ontvanger in.

  U kunt dit item naar maximaal vijf ontvangers sturen.

  E-mailadres(sen) van ontvanger invoeren: Maximaal vijf adressen scheiden met komma’s (,)

  Het naamveld is verplicht. Vul a.u.b. uw naam in.

  Vul uw naam in: Het onderwerpsveld is verplicht. Vul a.u.b. het onderwerp in. Onderwerp:

  Het veld e-mailbericht is verplicht. Vul a.u.b. een bericht in.

  E-mailbericht: Ik dacht dat u misschien wel interesse zou hebben in dit item bij http://uwashington.worldcat.org/oclc/802416413 Titel: A User's guide to ellipsometry Auteur: Harland G Tompkins Uitgever: Boston : Academic Press, ©1993. ISBN/ISSN: 0126939500 9780126939507 OCLC:802416413

  
  

  Bewijs dat u geen robot bent.

  Annuleren
• Delen
• Permalink
  Permalink

  Kopieer deze URL als link naar deze pagina
• Ask Us!

Meer in deze trant

Onderwerpen

• El·lipsometria.

Vergelijkbare items

A User's guide to ellipsometry

Auteur:	Harland G Tompkins
Uitgever:	Boston : Academic Press, ©1993.
Editie/materiaalsoort:	Gedrukt boek : EngelsAlle edities en materiaalsoorten bekijken.
Samenvatting:	Specifically designed for the user who wants expanded use of ellipsometry beyond the relatively limited number of turn-key applications, this text provides comprehensive discussion of the measurement of film thickness and optical constants in films.  Meer lezen...